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发表于 2008-1-2 23:38 | 显示全部楼层
新鲜哦,第一次看了这方面的知识。

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发表于 2008-1-2 23:45 | 显示全部楼层
又来精华!不错~

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发表于 2008-1-9 09:44 | 显示全部楼层
太好了,又偷到师了.

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好好学了学

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学习了。

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发表于 2008-1-9 13:00 | 显示全部楼层
如此,测试漏电的原理就是:
电压输出63V,待完全给电容充电后,理论若电容无损耗,则电容的电压为63V,
因此电阻上无电流流过,
但是因为电容无法达到63V,所以电阻必定有电流流过,
则为漏电,
是否如此?

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 楼主| 发表于 2008-1-10 07:21 | 显示全部楼层
电容器不可避免都是有漏电的.特别是电解电容.

漏电流会导致轻微的持续的容量泻放和电压损失,电源则一直补充.

所以电阻必定有电流流过的.

大电解的漏电流级别不低,很容易在普通条件测到.

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发表于 2008-1-10 16:26 | 显示全部楼层
很不容易啊,终于找到能上网的机器了 ```

我先来介绍下我们工业上是如何对电容进行老练的
首先,电解电容通过一个一个的架子直接并联在一起, 称为插架,然后好多架子通过更大的架子再并联,称为一个整体的超级电容
先通过一个简单低压变压器来充电,预充电,防止以后的升压充电太大弄坏电源
然后,就是升压,大概是每秒0.1V左右的幅度来升压,直到标称电压,
然后推到大型的 烘箱里里面,用一个可调纹波的大电源来老练,烘箱温度是其标称耐温.
然后12~24小时加速老练,等时间到 了以后,放电,放置6~8小时让其漏电流稳定下来,才能进入下面的测试阶段
以上是小体积的产品的标准,体积越大 ,时间也越长



漏电的 标准公式是 漏电(UA)=电压(V)*容量(UF)*0.01
一般的话,这是国家标准的底线,实际上产品的出厂性能会比这个好很多,最好的可以只有其标准的1/10


LZ的方式很简单,不过时间最好再长一点,因为没有加热的环节,会很慢.
电源上不要用全桥,半波整流就可以了,类似铅蓄电池的充电一样,纹波大一点老化的快.至于加热的话,把电容可靠连接好,用塑料袋包起来,泡热水可是个不错的选择~~~ 下面最好弄个小煤球炉子煮着,24小时后就能熟掉,可以吃了 :lol

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发表于 2008-1-10 16:34 | 显示全部楼层
还有个耐压的简单测试办法
弄一个输出电流比较小的电源,但是要充分的滤波稳压,然后接上保险丝,二极管,再接被测试电容,然后不断升压到接近标称电压,这时候看着接在电容上的电压表,慢慢的调整,等到调整的时候电压表固定某数值不会动了,记下电压,迅速降低电压,放电.
记下的电压就是最大耐压,取其80%为电容的标准耐压就可以了

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发表于 2008-1-10 16:35 | 显示全部楼层

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 楼主| 发表于 2008-1-10 16:44 | 显示全部楼层
多谢80MM的专业指导.

以前有加热测试过.不过不是加热老化,而是老化后常温测漏电,再加热到80度测漏电比较.

有一点不明希望继续探讨一下,小容量电容可能没这个问题,如果是低压大容量电解,通过插架直接并联老化似乎有问题?

就算用可调波纹电源,毕竟电压幅度有限,一排电容直接并联,波纹必定会被电源接入端的前几个电容吃掉一大半,后面的电容会根本分不到波纹.越是电压低,容量大的电容,会越严重.

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发表于 2008-1-10 16:56 | 显示全部楼层
大容量的方式有点特殊,都是串了电阻的 ,和你的构思类似
不过并的多一点
而且那专门的电源输出纹波是可调整的

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 楼主| 发表于 2008-1-10 17:07 | 显示全部楼层
还有漏电标准

之前咨询过一位朋友,说是I=U x C x 0.01, 电解允许在这个3倍内(我在网上查也有允许3倍,或者常数允许0.03的说法),他说单位为uA, V, F,这样的话这个标准很严苛了.

按这样算漏电流允许非常小,我也曾质疑过容量单位会不会是uF.

是uF的话,貌似这个国标也太宽松了.70v3万3uF的允许23mA
按这个标准什么垃圾二手电容都合格了....

现在终于知道了,是加热到标称温度测试时使用的公式.不过似乎仍然显得过于宽松.我对几种85度的电容测试的结果是,80度下漏电大致是20度下的6-10倍的样子.

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发表于 2008-1-10 17:18 | 显示全部楼层
确实是,不要怀疑,确实允许23MA,但是实际上每个公司出来的产品都是优于这个数值的,这是最低限度
当然,还要考虑到再存储周期内的漏电变化,这要求是在整个存储周期内都要低于这个漏电数值,漏电可是缓慢增加的哦
不是加热到标称温度的公式!高温下漏电不稳定,所以我说过,加热加纹波老化后,需要放置6~8小时以稳定漏电大小.

老练对漏电是有效的,可以最大程度的降低漏电,但是对容量和损耗没有作用

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发表于 2008-1-10 17:22 | 显示全部楼层
啊 ,还有
这个标准出来很久了
现在都是作为公司的普遍标准
实际上的产品性能要好很多的

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发表于 2008-1-10 17:30 | 显示全部楼层
损耗是一个综合指标,若漏电大,必定损耗大,怎么解释

老练对漏电是有效的,可以最大程度的降低漏电,但是对容量和损耗没有作用

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 楼主| 发表于 2008-1-10 17:36 | 显示全部楼层
那么就是,这个标准仍然是常温漏电检测标准了?

另外,说实话个人还是认为老化激活对容量恢复是有作用的.
当然,只是对储存期过长的电解的有效容量损失有一定范围的容量恢复作用,并非有提高有效容量/或对因电解液损失容量有恢复作用.

因为,实际发现确实有一些存储较久的旧电容老化前和老化后测容量,有容量提升现象.
可能是因为电解电容是电解液介质,有一定的类似化学电池的特性吧.

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发表于 2008-1-10 17:53 | 显示全部楼层

西风请看

http://www.peiming.com.cn/mall.php?query=view&cat=耐压测试仪&no=67
我买了个比这低一挡的仪器,基本我认为它的测量是:
耐压,充电到充不进时的电容二端电压为耐压,
漏电,也是充电,选择耐压为充电电压,到充电稳定时选,测试键,即测试所连电阻之流过电流,为漏电流,
您可有用过或了解?
可是,基本上我测试的二手电容都算蛮好的,具体数值忘了,
之前也请教过胆艺轩的一位老大,他也认为80%二手电容,性能都不错,,,
也买个这LCR
测试15000 169如图所示D值,
又有老大测试33000/70V的100HZ D值仅为0。2左右,是本坛的SONY,材料网开店的贴,而我的33000测试约为2以上的损耗值,让我搞不懂,,耿耿于怀,
老大可有计划关于损耗开贴,给我些明示,,
内容有些杂乱,见谅,,
15000 100HZ D.JPG

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 楼主| 发表于 2008-1-10 18:39 | 显示全部楼层
晕,不是电容坏了就是你的测试环节或你的的电桥本身有问题.

这电容 100/120Hz的 dissipation怎么可能会到2.0的

0.2的结果都觉得有点不正常.....


方便的话我争取尽快把我的拿去朋友那测个图片发上来给你看看.

穷人啊,LCR买不起,只能厚着脸皮蹭蹭人家的用.
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