PCM2706到底是使用I2S还是使用SPDIF？

ovosodo · 发表于 2010-4-4 07:39

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ovosodo · 发表于 2010-4-4 07:40

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ovosodo · 发表于 2010-4-4 07:54

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markamp · 发表于 2010-4-4 08:30

我需要急么,你说的可是一定带宽,都大于100kHz了无意义.我纠正你的观点时钟远端相噪也有影响.
时钟对DAC和ADC的影响不一样? 呵呵,抗混叠滤波器对时钟抖动有用? 对已经混频落在带内的噪声有用?
好吧,我收回那句话,是我错了,我小心眼,行了吧?
如果你再回复,请不要理会那句话,纯粹理论探讨,OK?
就像这句:"ADC和DAC是一样的东西么？抗混叠滤波器在哪里啊，ADC DAC都一样么？"

markamp · 发表于 2010-4-4 08:41

既然你有这么好的条件,你可以把结果测出来给我们看看,是不是经过DIR9001后远端相噪变小.近端噪声几乎不变.
还可以按stereophile上测jitter的办法测DAC的输出抖动,是不是底部的噪声电平变得更低,而杂散几乎没变大.

markamp · 发表于 2010-4-4 09:31

补充一下,我说的ADC/DAC一样是指带宽内的一样,带宽外的都被滤波掉

ovosodo · 发表于 2010-4-5 07:00

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ovosodo · 发表于 2010-4-5 07:03

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markamp · 发表于 2010-4-5 10:21

我有PCM2706和DIR9001的空板.
两者的成品板现在在用,没办法给你.
可以的话我寄给你空板,电路图也发给你,你那儿电阻电容的应该不缺吧.焊完测试一下.
DAC输出抖动目前没办法测,因为我的板子不支持256fs的IIS输入.

markamp · 发表于 2010-4-5 10:49

另,能具体说一下时钟对ADC和DAC有什么不一样么?

从这篇文章上看,
输入信号频率小于1/2采样频率(不是过采样),它们都一样,远端相噪和输入频率的镜频的差频只要落在带内就会造成信噪比恶化.
过采样的话,ADC输出峰值没有降低,DAC高次镜像频率输出峰值按sinx/x降低,但是对应的峰值和相噪引起的杂散的比值和过采样ADC还是一样.

lengtouqing · 发表于 2010-4-5 14:26

菜鸟弱弱的问一下，AP2700能拿来测抖动吗？

simmconn · 发表于 2010-4-5 14:46

可以，它可以直接测量音频主时钟的jitter，S/PDIF信号的jitter以及jitter对DA转换后模拟信号的影响。

HerculesVR · 发表于 2010-4-5 16:18

都是跑题王········

没悬念I2S比S/PDIF好···协议本身就有非常多优势。

-------------------华丽的扯淡分割线-----------------------------

word clock的TIE测试几乎无法测试，包括Lecroy SDA7也不行，有一次跟Lecroy FAE折腾了半天。

对于word clock的TIE测试必须在超低抖动增加情况下变换到M级别才能进行复杂的抖动测试。因为 PLL没法工作在kHz。当然Ref Osc和 VCO 都需要超高性能。

PLL等抖动测试都是时间测试，权威仪器只有GuideTech，Lecroy因为写过几个白皮书所以也算在此方面测试占有一席之地，Agilent 的抖动测试技术比Tek好一些，Tek的东西经常运算不够死掉[DSA8]，或者说长时间没有相应，当然仅仅是Tek此方面不足，其他方面Tek还是有很强的地方。

其实现在很多示波器测试都有抖动测试功能，因为现在传统示波器基本上都被新一代的SDA取代了，就是串行数据分析仪，只不过价格还不和谐。SDA都具备测试负责项目能力，尤其现在USB3或者PCIE等协议增加了对抖动要求。

Julian Dunn的测试方法有局限性，就是如果你的EUT性能的确超级BT，那就没法测试了。Julian Dunn毕竟是前Prism Sound工程师，多看看Prism Sound CTO Ian Dinnes 的 white paper有用，况且AES/EBU 标准是Ian Dinnes起草的。 Ian做标准草案时候就是确立这种测试方法，都是调制解调方法，当然这个理论早就有，其实Audio Analyzer的带宽限制了这个测试方法，因为我们必须要分频才能测试高word clock的频谱[比如把192kHz降低到12kHz测试，Audio Analyzer最佳性能区间都是20Hz-20kHz]，如果我们要看 192kHz的word clock 使用Audio Analyzer几乎不可能，因为大多Audio Analyzer模拟带宽只有200kHz[AP最近出了2MHz，但是高频性能没有办法维持的像音频频段内那么好]，从S/PDIF或者AES3解调出的数据分为data jitter和fs jitter，这个解调器是本身就会裂化，事实情况是kHz级别分析远远没有MHz级别分析来的精准。Ap也是这种测试，跟dS3大同小异。

在TIE测试无法做时候我们只能看相对值了。事实上我们常规测试抖动都是传输抖动，说白了就是串行数据抖动，只要达到协议要求都可满足应用。其实Jitter测试本身就是百家争鸣，每家都有独立理论，当然其实都是因为技术限制，只有lecroy和guidetech等少数公司强调TIE测试，包括一些TIE测试白皮书也有提及，技术限制是重点，TIE测试太复杂了，以至于同一个EUT使用不用的SDA测试出来的结果几乎完全不同。

ovosodo提到了相位噪音测试，这才是时间测试基础。测试相位噪音的机器基本都是天价，包括Symmetricom或者Aeroflex。

最后，因为现在数据音频普遍使用Bi-Phase Mark技术，而且技术很成熟，实际应用中I2S=S/PDIF或者AES3，当然主要看产品设计者的功力，协议是无罪的。现在音频分析仪的串行数据测试模块[就是测试I2S什么的]都是从AES3调制的来的，从这点足以说明其实设计好了，两者几乎没有性能差距。

haluo · 发表于 2010-4-5 20:09

学到不少东西，很喜欢看这类的讨论贴。

markamp · 发表于 2010-4-5 22:48

看到大侠的论点,说实话,我有些想笑.懂得确实比我多,我承认.但是你对抖动本身理解到何种层次我就不清楚了.
相噪测试怎么和时间测试混到一起了,一个是频域,一个是时域.OK,采到的时域信号能变换成频域,但是这两个并不属一个范畴.
不知道你说的kHz分析和MHz分析是指的什么.我知道的是带宽越宽,信噪比越低,越不容易看到微弱信号(杂散).
抖动对AD/DA的影响和纯粹数据传输是不一样的,对AD/DA带内,近端相噪影响主要是杂散,远端相噪(某些频段)主要影响信噪比.而数据传输是看眼图就好了,主要是抖动的Vpp值,避免发生数据接收出错的问题.如果想测得精确一点,可以用采样示波器.当然测相噪也是一个方面.但是现在像PCIE,USB3.0等等协议为了减小EMI,使用了扩频技术,所以看相噪还得小心一点看,呵呵.
测试192kHz word clock没意义,测测MCLK还差不多,除非你用NOS的DAC.只要用数字滤波,DAC的转换时钟就不会是用word clcok.

HerculesVR · 发表于 2010-4-6 00:34

看到大侠的论点,说实话,我有些想笑.懂得确实比我多,我承认.但是你对抖动本身理解到何种层次我就不清楚了.
相噪测试怎么和时间测试混到一起了,一个是频域,一个是时域.OK,采到的时域信号能变换成频域,但是这两个并不属 ...
markamp 发表于 2010-4-5 22:48

抱歉其实我懂得不是很多所以才来跟大家讨论，我对抖动的了解停留在 Lecroy 的仪器和 PN9K的上面。

你自己都说了，频域和时域是可以转换的，不是范畴但是都是一个测试，在5120B上面测试全是频域的相位噪音测试，然后我们用阿伦方差得到时域信息。因为阿伦方差以及仪器计算都会有误差，所以通常最底层测试更注重相位噪音频谱，我想说明这点。

kHz 和MHz 是做TIE测试时候的需要，除非我们自己做一个kHz级别的 TIEA[时间误差分析仪]，现阶段市面上的TIEA都无法进行kHz的TIE测试，所以需要转换成MHz，尽管现在的ADC DAC的Jitter容忍度很高但是TIE作为一个测试手段依旧是最直接的，直接测试Mater Clock不能代表实际采样UI误差特征。跟测试带宽没关系。再简单说一点，没有高性能PLL可以工作在kHz。你说测试Master Clock比Word Clock更重要，我个观点恰恰跟你相反，Word Clock直接影响采样精度，尤其高性能ADC，其内部interpretation 非常重要，你要清楚我们说的word clock不是音频接口的那个WC In 或 WC Out，我指的是fs，TIE测试及UI误差测试。不管是否 NOS技术，fs精度都是影响声音一个关键因素。即使我们讨论是Word Clock I/O，至少我开发和接触过的大量使用Word Clock 还有External Digital Filter 的设备，跟你的说法正好相反。

传输测试[即数字信号载波]不是用采样示波器，使用SDA，我前面都说过了，比如Lecroy的SDA760，有些采样示波器可以做这个功能，但是不能做最精密测试，但是所有SDA都能做采样示波器做的。向下兼容。音频传输测试不能用通用仪器，必须用音频分析仪，因为通用示波器不会解码，我们除了看到眼图之外什么都看不到，眼图看到的200mV远远不够，我们需要看比特位状态，这必须音频分析仪。

欢迎就音频相关测试深入讨论，互相学习，谢谢。

markamp · 发表于 2010-4-6 10:15

能否把你说的word接口需要的几个信号说一下? data,bclk,wclk? ADC是输入还是输出?你说的fs频率多高?
录音设备我不熟悉,一般说来,如果用delta-sigma的ADC,内部用的时钟不会是word clk,它需要用64x(或更高)超采样再转化为PCM输出. 民用的绝大部分DAC不可能直接用Word clock,因为得超采样.
SDA这个应该是实时示波器吧,就8bit精度而已,他和采样示波器运用不大一样,你要看长时间的眼图,采样示波器肯定比你的实时示波器好,呵呵,能测到的抖动更低.

ovosodo · 发表于 2010-4-6 23:17

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markamp · 发表于 2010-4-6 23:56

我在北京呢.贴PPT吧,我看看抖动对小于1/2fs输入信号频率的DAC和ADC到底有啥不同?最好公式什么的的全贴上.看看是不是和那个作者写的不一样.好像还有一篇文章是AD公司写的,也是差不多.
我同意你关于MCLK的意见.他说的word clock jitter我也知道是什么意思了,这个是测试DAC模拟输出抖动的一个方法,用AP测.这个命名容易误倒人,因为实际上采样用的并不是word clock,但是表现形式却是像word clock在抖动.

markamp · 发表于 2010-4-7 20:40

第70个帖子过采样应该是欠采样,翻译错了.
我对ADC和DAC的jitter认识是,
1.输入信号如果是一个正弦波,不管相噪频率多高,只要调制时钟后在转换点的时间有误差,这个采样点就会出错,从而恢复出来的模拟信号就有误差.所以高频相噪不可能不对信号有影响.DAC和ADC都一样.
2.时钟对于ADC和DAC的影响是否一样.假设我们用同一个有抖动的时钟给ADC和DAC,信号经过ADC,然后输给DAC(假设他们传输数据时间是0),即便ADC采样时间点相差t,但是DAC的时间点也对应的相差t,对应的结果就是采样点位置发生移动,恢复出来的信号还是原信号.这样看起来,它们的误差刚好相反的,尽管表达式不一样,但是本质影响是一样的.

PCM2706到底是使用I2S还是使用SPDIF？

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