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发表于 2026-1-21 08:11
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本帖最后由 Lou 于 2026-1-21 11:20 编辑
柳暗花明 发表于 2026-1-21 01:09
新版的热传导使用了什么高科技?
影響熱阻的因素是製程好壞,晶片的厚薄,包裝材料,和導電膠的熱傳導性能。磨薄晶片要成本,損壞率也高。
所謂 150w 的功率,指的是當消耗 150W 能量時,從晶片的 PN junction 到外殼的最大溫差。
外殼一般假設能維持常溫 25度。而 PN 介面的最高溫是不造成介面崩潰的最高溫度。這跟製程有關,有些擴散能到 200度以上,而一般離子植入就不能。
晶片大也不表示電流就大,半導體是合金,又不是電線。像同樣是 TO-92 包裝的小黑豆,有些只有 50ma, 有些可到1A. 這跟 doping 濃度有關,是製程的一部分。
因為好奇拆開晶片包裝是無所謂的。但憑肉眼看面積進而斷定性能就太土法煉鋼。
除了表面的金屬鋁,肉眼能看出什麼嘛!
早期的鑽石切割機器準確度可能不夠精確,晶片間會留較大空隙,這跟晶片性能是毫無關係的。
有些晶片之間有測試電路,稱之為 E-test structure. 這樣在製程中可檢視流程的準確度。也會影響晶片大小, 但跟性能或功率毫無關係。
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