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 楼主| 发表于 2016-1-25 20:43 | 显示全部楼层
本帖最后由 smg001 于 2016-1-25 20:47 编辑

正如版主所说的,我开始只测量了BC,BE正向导通,反向截至。没有测量CE。结果就错过了查出问题所在。 QQ图片20160125204536.png

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 楼主| 发表于 2016-1-25 20:49 | 显示全部楼层
本帖最后由 smg001 于 2016-1-25 20:53 编辑

但我想不明白啊,既然CE都击穿导通了,为什么BD BE都正常呢,难道CE之间从B区域烧了个洞?以后还真要测量仔细了。

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发表于 2016-1-25 20:59 | 显示全部楼层
smg001 发表于 2016-1-25 20:49
但我想不明白啊,既然CE都击穿导通了,为什么BD BE都正常呢,难道CE之间从B区域烧了个洞?以后还真要测量仔 ...

这管是CE击穿的,按你的方法测量它是"好"的。
11.jpg

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发表于 2016-1-25 22:00 | 显示全部楼层
场效应管有这种可能,测量G,S极时候触发导通了。三极管没遇上过测量过程中能损坏的。
    CE极短路长有发生

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发表于 2016-1-25 23:11 | 显示全部楼层
灵巧 发表于 2016-1-25 22:00
场效应管有这种可能,测量G,S极时候触发导通了。三极管没遇上过测量过程中能损坏的。
    CE极短路长有发 ...

看帖不认真。

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 楼主| 发表于 2016-1-26 00:47 | 显示全部楼层
说明2个PN结基本没有被破坏,功能还是正常的,只是C和E之间从PN结上打洞贯穿了,或者是E引线脱落连接到C端。是吗?

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发表于 2016-1-26 05:28 | 显示全部楼层
本帖最后由 Lou 于 2016-1-26 06:10 编辑
smg001 发表于 2016-1-26 00:47
说明2个PN结基本没有被破坏,功能还是正常的,只是C和E之间从PN结上打洞贯穿了,或者是E引线脱落连接到C端 ...


下方是E
上方是B

背面是C(substrate, 晶元背面).

看樣子, 那個黑黑的, 把E與C, 連在一起哦. 燒穿了。就像電弧銲接一樣。


C和E之间沒有PN结!

這是個很有趣的問題. 
從沒想到過. 也從沒開刀看過 !

1980 年代流行過 RET (Ring Emitter Transistor). (有人知道 RET 的中文名字嗎?)
這看起來像是兩個E極並聯.
第一次看到內部.

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发表于 2016-1-26 05:44 | 显示全部楼层
smg001 发表于 2016-1-24 21:38
就是一个普通的小三极管,MPS4250,和2N5401差不多。用数字表测量CE击穿,但测量BE BC均显示正常。按道理CE ...

CE穿了后,CE短路。

BE,  BC均应该被保護

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 楼主| 发表于 2016-1-26 20:50 | 显示全部楼层
嗯,这才彻底弄明白了。开始是想到PNP那个模型。基极,在中间。两面是被CE夹着它的。实际不是这样的。CE也贴在一起了。它们之间穿了。

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发表于 2016-1-26 22:32 来自手机端 | 显示全部楼层
貝爾實驗室剛出來的的確是如此。 後來導入平面形晶體, 否則製造成本很高

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发表于 2016-1-27 21:48 | 显示全部楼层
楼主碰到的这奇怪现象维修佬统称为"软击穿"不说常见但也是时不时遇到的现象.还有更奇葩的塑封管内部接触不良,那才是百年一遇

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 楼主| 发表于 2016-1-27 22:44 | 显示全部楼层
软击穿倒是遇到过,内部接触不良也遇到过。不过软击穿不是这样的吧,软击穿在平常应该是好的,上电后才会出问题。
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