smg001 发表于 2016-1-25 20:43

本帖最后由 smg001 于 2016-1-25 20:47 编辑

正如版主所说的，我开始只测量了BC,BE正向导通，反向截至。没有测量CE。结果就错过了查出问题所在。

smg001 发表于 2016-1-25 20:49

本帖最后由 smg001 于 2016-1-25 20:53 编辑

但我想不明白啊，既然CE都击穿导通了，为什么BD BE都正常呢，难道CE之间从B区域烧了个洞？以后还真要测量仔细了。

mxwmke1 发表于 2016-1-25 20:59

smg001 发表于 2016-1-25 20:49
但我想不明白啊，既然CE都击穿导通了，为什么BD BE都正常呢，难道CE之间从B区域烧了个洞？以后还真要测量仔 ...

这管是CE击穿的,按你的方法测量它是"好"的。

灵巧 发表于 2016-1-25 22:00

场效应管有这种可能，测量G,S极时候触发导通了。三极管没遇上过测量过程中能损坏的。
    CE极短路长有发生

mxwmke1 发表于 2016-1-25 23:11

灵巧 发表于 2016-1-25 22:00
场效应管有这种可能，测量G,S极时候触发导通了。三极管没遇上过测量过程中能损坏的。
    CE极短路长有发 ...

看帖不认真。

smg001 发表于 2016-1-26 00:47

说明2个PN结基本没有被破坏，功能还是正常的，只是C和E之间从PN结上打洞贯穿了，或者是E引线脱落连接到C端。是吗？

Lou 发表于 2016-1-26 05:28

本帖最后由 Lou 于 2016-1-26 06:10 编辑

smg001 发表于 2016-1-26 00:47
说明2个PN结基本没有被破坏，功能还是正常的，只是C和E之间从PN结上打洞贯穿了，或者是E引线脱落连接到C端 ...

下方是Ｅ
上方是Ｂ

背面是Ｃ（substrate, 晶元背面）.

看樣子, 那個黑黑的, 把Ｅ與Ｃ, 連在一起哦.　燒穿了。就像電弧銲接一樣。


C和E之间沒有PN结！

這是個很有趣的問題.　
從沒想到過. 也從沒開刀看過 !

1980 年代流行過 RET (Ring Emitter Transistor). (有人知道 RET 的中文名字嗎?)
這看起來像是兩個E極並聯.
第一次看到內部.

Lou 发表于 2016-1-26 05:44

smg001 发表于 2016-1-24 21:38
就是一个普通的小三极管，MPS4250，和2N5401差不多。用数字表测量CE击穿，但测量BE BC均显示正常。按道理CE ...

CE穿了后，ＣＥ短路。

BE,BC均应该被保護

smg001 发表于 2016-1-26 20:50

嗯，这才彻底弄明白了。开始是想到PNP那个模型。基极，在中间。两面是被CE夹着它的。实际不是这样的。CE也贴在一起了。它们之间穿了。

Lou 发表于 2016-1-26 22:32

貝爾實驗室剛出來的的確是如此。 後來導入平面形晶體， 否則製造成本很高

柯尔 发表于 2016-1-27 21:48

楼主碰到的这奇怪现象维修佬统称为"软击穿"不说常见但也是时不时遇到的现象.还有更奇葩的塑封管内部接触不良,那才是百年一遇;P

smg001 发表于 2016-1-27 22:44

软击穿倒是遇到过，内部接触不良也遇到过。不过软击穿不是这样的吧，软击穿在平常应该是好的，上电后才会出问题。
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查看完整版本: 怎么回事？三极管击穿。