请前辈解答我的套件测试曲线反映出的问题

biqi2 · 发表于 2013-2-6 10:19

本帖最后由 biqi2 于 2013-2-6 10:22 编辑

套件焊接好一段时间了，昨天花了一天时间用套件测试了自己做的一套箱体（还未加分频器）和一个SONY成品箱体。总的感觉：
1：LspCAD中的JUSTMLS图中的“检测电平”、“声卡校正”按钮，以及测试Z 、SPL的 “开始”按钮，不是每次都有效，有时甚至要连续按很多次才能有一次输出，不知道是不是我的声卡的问题？
2：在测量自己箱体阻抗曲线时每次扫描结果差别较大，见下面图片；
3：在测量SPL曲线时每次扫描结果差别较大；尤其是测量高音远场的时候低频部分有很高的幅值，和论坛里面许多人测试的结果大不一样；
4：最终合成后的远近场曲线感觉很怪，低频20HZ附近衰减不陡峭，高频20KHZ附近上翘厉害，这在无论是在我自己的箱体还是SONY成品箱体上的结果都是一样的？

下面上图，请各位大侠指正！