[音频测量] 问一个测试步骤的问题

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发表于 2010-4-9 00:44 | 显示全部楼层
我看到论坛的测试的步骤如下:
1:测量各单元的上箱后的阻抗曲线,导出数据
2:固定MIC,高度在高音轴距离100CM。
3:在3ms的时间窗下,对准时序脉冲,然后再测试高音的远场频响
4:MIC 不动,同样时间窗下,测量中音的远场频响
5:MIC 不动,同样时间窗下,测量低音的远场频响
6:移动MIC到中音的高度,近场,100ms时间窗,对准时序脉冲,测量中音的近场频响曲线,然后合成中音的近场和远场的频响和相位曲线
7:垂直移动MIC到低音的高度,近场,100ms时间窗,测量低音的近场频响曲线,然后合成低音的近场和远场的频响和相位曲线

现在的问题是 我的箱子是金字塔外形的箱,第7步的时候垂直移动MIC到低音的高度就会离低音喇叭近很多,这个时候时序脉冲会偏离很远,调整的话相位就不能和原先测试的中音保持一致了,怎么办?请高手指点

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发表于 2010-4-9 08:05 | 显示全部楼层
近场时序当然会跟远场对不上,近场测试无论中音还是低音都要重新对准时序,然后跟所测得的该单元的远场曲线合成.

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 楼主| 发表于 2010-4-9 09:06 | 显示全部楼层
谢谢W版主 我还有个疑问就是 同样的近场的测试,金字塔外形的箱在垂直移动MIC的时候,中音喇叭和低音喇叭的近场测试距离是不一样的 这样对的吗?
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