LspCAD 測量的准確性問題驗証方法

alex_zhou

看了很多關上面几個關于測量的置頂貼﹐已大致了解測量的方法﹐但當按模似出來的分頻器做成品時﹐測成品的頻響曲線與模似有出入﹐不知是什么原因

     所以我用如下測量方法并相辦法驗証測量的結果的准確﹐方法如下﹕
     1: 軟件較正﹐及底音與高音都上箱﹐測量高低音的抗阻﹐并保存成文件。
     2: 底音與高音都上箱頻響 ﹐把音箱 橫著放 ﹐只測高頻遠程再測低頻遠程（60CM）﹐
         測量高頻時先對准高音軸 ﹐并較正時間窗口的脈沖 ﹐再測量出較合理的頻響曲線及相位曲線 ﹐頻響曲線無論怎樣測﹐都差不多﹐
         但相位曲線則有較大變化﹐多測几次 ﹐取較合理的保存。
     3﹕高頻遠程測量好后 ﹐話筒的位置﹐較件的設置 什么都不要改變﹐ 把音箱反轉 ﹐即把高音與低音的位置 對調一下﹐
         這樣就達到低音的位置與原先測量高音的位置一樣 ﹐目的是使 與原高音的測量環境一樣﹐
         接下來是不改變任何設定﹐測量底音頻響曲線 ﹐頻響曲線基本是怎樣測都沒有改變﹐相位曲線則測几次都不相同﹐
         5K--10K 中的相位曲線相差較大 ﹐但不知取值哪一個結果較合理﹐所以就取了一個較為好看的保存。
     4﹕不用分頻器直通﹐把高音與低音并聯 ﹐測量整箱的頻響﹐
         在上面的基礎上﹐把音箱橫向移動﹐使話筒對准低音與高音的中間﹐再測量﹐并保存結果。

     5﹕LSPCAD 建立兩路高級分頻器 ﹐加入底音及高音的 頻響曲線及抗阻曲線文件。
         再打開總頻響曲線圖 ﹐因還未有加入任何零件﹐這時的曲線正是高低音直通并聯的模似結果 ﹐
         用這個結果 與 第4步的結果作比較 ﹐就可對比 LSPCAD 的模似結果 與 實際測試的是否有分別 ﹐
   
         若相差很少 ﹐則証明 測量的數據准確﹐數據可用于分頻器的設計 ﹐若相差較大﹐則証明測量結果不准確 ﹐若用這些數據作分頻 ﹐
         到時會發現分頻器的結果 與實際的出入 ﹐浪費分頻器的投資 ﹐及自已的一翻心血 ﹐慘啊﹗

     
  請教各位版主﹐以上理論上正確碼﹖﹐   以上方法不知道是不是可行﹐我在用上面的方法測量時﹐總有一些出入 ﹐特別是4K--10K 之間的曲線﹖  
有空上圖。

alex_zhou

下面是高频的两次测量,频响一样,相位曲线差一些


下面是低频的三次测量,频响一样,相位曲线都不同


下面是高频与低并联后,话筒放在低频与高频的中间的实测音箱频响



把低频与高频的测量数据放在LSPCAD 中作分析,不加入任何分频零件,作直通,
试过高频与低频的各组数据互相组合,发现 高频的第二个图2  与 低频的第1个图的结果最接近上面的实测结果,
这样就可用这组数据作分频器的数据了,其它的组合与实际的相差非常远,若用这些组合做完分频器后才知道,与设计模拟的相差很远,
这样直的很烦, 感觉做好的真象中彩票一样.

hawang

上图学习一下。

alex_zhou

所以音箱测量最关键是选取准确的测确数据,我这等莱鸟,很难判断哪个是合适的,如高频我之前是选第一个,低频更是无从入手,不知选哪一个,我以前的一般做法的,分别选好高低频数据后就直接用作分频器设计,我之前已失败了几次了,无一次成功,模拟出来很平直的曲线,但一测实际的成品曲线往往很难看很远,模拟出来的数据与实际的相差很远,这个问题一址困扰我很久,
   到现在我也不会判断,今晚心血来潮,想了一个办法多测几次,互相组合, 高低直接并联,对比实际与模拟结果,看看哪个组合与实际最接近, 就用哪组作分频器的设计数据.

维卡亚

楼主应该多看看O版的帖子.使用O版的那个"最烂的好办法",LSPCAD完全可以把模拟精度作得相当高

alex_zhou

O版的置顶贴已看过很多次了,操作方法基本上是参考他的指示:
ok氏分频设计用频响测试原则（这里只给出方法，原理请各位自己琢磨） ：
频响及相位测量一定要上箱!
该沉孔的也要沉孔!
然后按照频率从高到低,测量距离从远到近的原则进行测量
即先远场测高音单元
然后位置不动,设置不动,测量中低单元的中高频段
然后再改变mic位置近场测量中低单元的低频.
这样,才能保证两个单元的相位差的准确测量,保证相对灵敏度的准确测量!

alex_zhou

有不同的是,我没有进行低频近场的测试并合成,因看过之前有贴说过,作分频可不进行低频的测试及合成,并且因合成后,我怕引入更多的不准确,更难控制,特别是相位曲线.
  我的做法是:
   先进高频测量时我用"补偿" 填上合适的数据使时间的脉冲对齐后,在"长度"一栏一般填上 3ms 后测到较合理的高频后,
根据O版的意思是,不动任何设定,马上测低频的测响, 就得出上面上图的三组低频图,但我不知哪组是对的,
   以上是我对测量的方法的理解,可能是对O版的贴还没理解得透.
请各位指点.

okk

你的来回比较的的思路很好。学习了。

测试的结果表现出了MLS测试方法的缺点 — 不确定性。你可从众多结果里挑一个你主观上认为合意的，但可能并非最真实的。
你的窗宽（即"长度"一栏） 3ms 对应的有效数据起自330HZ，按JUSTMLS说明书里的要求，可信数据应为3000HZ以上。放松点要求，也得1KHZ以上才可信。所以你的低频端相位数据可看到是每次测试不同的，不是“选择”所能解决的。
解决办法：增加窗宽（即"长度"一栏） ，到200MS以上。数据可信了，但环境反射影响也来了，依然难以精确。解决这个矛盾问题，就是DIY友与正规厂家的区别。

alex_zhou

多謝O版的指點 ﹐我遇到的問題 可能是大多初學測量的問題 ﹐壇上很多人買了測量套件﹐但能用得好的只有寫置頂貼的等几位高手了﹐很少見其它人發表意見及討論﹐JSUML 操作很容易﹐但實際掌握較難﹐只有一點點不注意的﹐測量的數據就不准確了 ﹐我從安裝了測量套件到現在已一年多了﹐搞了很多次測量 ﹐費了很多心血﹐但每一次作好的箱的頻響曲線都與模似出來的相差較大 ﹐很受打擊。
  
     O版指出我的問題 ﹐讓我非常激動﹐困扰我很久的問題終于可解決 ﹐繼續我的做箱大計﹗
感謝O版!

alonelie

跟着说的玩。
同一位置多此测量在测试套件复位标准（有时需要开关）情况下，频响数据差异很小。但是相位经常不稳定，那其实只说明脉冲没对准。而手动对准其实不准。
在可能的情况下，如果能成功单声道测试，那么相位情况就是一种比较标准状态。双声道中以此为参考设置是可以的。
其实测试数据再加上软件计算而来的模拟结果和实际测试结果只差别了软件的计算，所以其实模拟还是比较接近的。变化的是两次测试。（所以同一位置是非常关键了）
小时间窗下几百hz下的随机性是非消音室情况无法避免的了。不怪软件，怪时间短数据采集量太少。

alex_zhou

方案 1:先測高頻遠程(63cm)﹐對齊脉冲 ﹐調整"补偿 ","长度"一栏一般填上 10ms 左右,測得高頻的曲線后﹐什么設定都不動 再測低頻遠程(不改設定﹐但發現脉冲已不再對齊了) ﹐低頻相位每次測得的相位曲線都不同 .

  方案  2: 先測高頻遠程(63cm)﹐對齊脉冲 ﹐調整"补偿 ","长度"一栏一般填上 10ms 左右,直到得到穩定的相位曲線﹐先什么設定都不動 再測低頻遠程 ﹐若發現脉冲已不再對齊時﹐再調"补偿 "使脉冲對齊﹐并增大"长度"一栏到 100-200ms 之間﹐看實際而定 ﹐但測量拒離不得變動（63cm）﹐直到得到穩定的相位曲線

   頻響曲線很穩定﹐但相位曲線就不容易穩定了﹐總之最重要的是測得穩定的相位曲線 , 是測量准確與否的關鍵。

alex_zhou

alonelie 兄 ﹐你的Seas E008 Excel 單元作的箱非常成功﹐希望多多指教﹐

   不知   "单声道测试" 具體是怎樣操作的﹖

okra

整体上这个方法的思路是正确的.
高音单元的相位随设置在不同次的测量有一些变化是正常的，但低音单元的中高频相位在按高音测完什么都不变就测的原则做的话，每次都不一样,这个实在不能理解（从你的图上看，5khz处有的是120度，也有接近0度，相差近120度(1/3波长），相当于位置改变了2.2cm！）.只能建议多做些基础性的检查工作并不断总结熟练、完美测量技术（多注意各个细节，这个很难言传）.
也许原因还是在测量精度上,可以注意到,你在3ms的时间窗下,测量结果中的中频仍有很多毛刺,在这个条件下本不该出现（我曾经在远场时使用３０ms的时间窗，才会在高频出现这样的毛刺，当然，中频就差多了）,请检查套件与声卡.
另外,时域曲线还有一个用处,可以用来判断是否存在明显的环境反射声干扰.我用的mic最早只比支架伸出约20cm,3ms也会有一些反射声的干扰（一个论坛朋友指出这个偷懒的作法并不好,我查看了时域的情况,果真可以看到干扰脉冲）,于是把它延长到了60cm以上,时间窗就可以长到4.5ms而无明显反射声干扰.因此请检查你的时域曲线情况。

okra

至于方案２，如果测量位置不变，改变补偿距离使脉冲对齐，能得到稳定的低频中高频相位测量结果，那么，请记录这个补偿值的差值，用在lspcad的单元属性的z轴距离上，也可以得到理想的实际相位补偿模拟。
但我猜测这样测得的低音单元的中高频相位可能还是不会稳定的。

alonelie

原帖由 alex_zhou 于 2008-9-18 16:03 发表
alonelie 兄 ﹐你的Seas E008 Excel 單元作的箱非常成功﹐希望多多指教﹐

   不知   "单声道测试" 具體是怎樣操作的﹖

alex_zhou兄，您客气了。
自己那款箱子绝不敢说成功，现在还在后期的调试研究中，离成功还很远。

确实如O版所说，对低音单元相同情况下，频响和相位不应该乱变的，是否测试中间有什么问题。

自己建议的，选择一个自己设定的最终测试位置来测试单元，譬如高低音中间。然后对高音和低音单元采用完全相同的测试设置，获取数据，等模拟完后应该和实际成箱测试很接近。这个好像教程也是这么说的。简单一点就是不包含近场测试，那么只有一个测试为位，一个统一的设置。

单声道方式是指在软件上不点两声道方式的测试，这种测试理论上可能频响不是最准，但是相位恒定。但是根据设备状态，不一定能成功，需要多次复位套件，并尝试2根线的连接（有根可以不连）。不算主流方法，仅供参考。

alex_zhou

看来以前一直对"位置不变"理解错误了:
看见O版的意见,"（从你的图上看，5khz处有的是120度，也有接近0度，相差近120度(1/3波长），相当于位置改变了2.2cm！）",我想起了我的低频及高频的测量拒离是按照上箱后按高低音的安装平面计算的, 但由于低音纸盘是凹下去2CM左右的位置,这刚好是O版所说的差别2.2m,   单从上面的图就可以看出这点,并且我的时域中真的存在你所说的有反射声干扰,怪不得我设定10ms以上测得的曲线就非常难看,O版的水平果然高深莫测,若你不说,我永远不知道我的问题 , 全部给你说中了,本人佩服到极点.

alex_zhou

我的声卡型号好象是创新SOB027 USB声卡 , 不知是否声卡不稳定的问题 ,也可能是我mic 搞得太简漏 ,得从硬件方面再找找原因了.或换个环境再测试.

flscs1

如何正确的测得设计分频所需要的频响曲线，可能是大家都关心的问题，在此请各位高手都来谈谈，要注意那些细节？谢谢！！！

okra

再认真看了一下首帖
“  3﹕高頻遠程測量好后 ﹐話筒的位置﹐較件的設置 什么都不要改變﹐ 把音箱反轉 ﹐即把高音與低音的位置 對調一下﹐
         這樣就達到低音的位置與原先測量高音的位置一樣 ﹐目的是使 與原高音的測量環境一樣﹐”

这个不对，按那个原则做的话，一切都不能动，除了把喇叭线从高音移到低音的接线端上。

flscs1

谢谢Ｏ版我家有个凉台，我想把音箱喇叭朝天放置，下部垫高到１米，再用话筒测试频响准确性能不能很高呢？？？