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楼主 |
发表于 2021-7-6 00:34
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同理,16位的J-Test信号也是192个采样点不断重复输出得到的,以16进制格式表示为:
C000,C000,4000,4000 (× 24)
BFFF,BFFF,3FFF,3FFF (× 24)
其波形(已经通过SINC插值带限于1/2采样频率内,所以是正弦波)和频谱如下图。在没有抖晃情况下,12kHz信号的幅度超过其附近的边带幅度124dB左右,超过250Hz信号幅度92dB以上。
从上面的精心设计的采样点数据可以看出,J-Test采样数据的后22位(采样位数=24位时)或后14位(采样位数=16时)以较低的频率(1/192的采样频率,48kHz采样频率下为250Hz)整齐地同时翻转。采用这一较低频率的原因是它通常不容易被AES3的接收端的时钟恢复电路衰减。而测试信号的主频较高,为1/4的采样频率(48kHz采样频率下12kHz),主要是因为高频信号受Jitter影响更大,而且在该频点构造J-Test信号的确方便。上述J-Test信号的特殊组成用于激发由数据引起的最坏情况下的Jitter。若将传输J-Test信号时的频谱图与传输0信号时的频谱图比较,除去J-Test信号的本底谱线,剩余的差别部分就是由于数据导致的Jitter引起的。
三、Jitter的直接测量法与间距测量法
Jitter的测量有直接法和间接法。直接测量法就是直接测量时钟信号的波形,然后可在时域直接计算每个周期的时钟误差然后做统计分析,也可做眼图来定性分析;或者在频域分析载波及其相位噪声的频谱。直接测量法要求仪器有较高的时间分辨率,定量分析还需要仪器具有统计分析和谱分析能力。直接测量法也需要对被测设备的电路有所了解,有的时候不是很方便,比如对一个装入外壳里的成品的测试,还得打开盖子来做。
间接测量法就是向被测系统注入自身Jitter相对于被测系统极低的测试信号(例如正弦波),然后对被测时钟所转换后(例如ADC或DAC)或传输后(例如AES3传输通道)的数据进行分析来定性或定量地推断出时钟的Jitter情况。
本文主要介绍的是间接法测量Jitter 。
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