wangpingsc 发表于 2012-3-3 10:53

高手看看LSPCAD 测量F0准确度的问题

今天带了两个喇叭到朋友的工厂测试F0，用的是F0测试仪，一个3寸的是77HZ,1.5寸的是166HZ。而我用论坛的套件测试3寸的喇叭是98HZ,1.5寸的喇叭是190HZ。怎么相差怎么远，难道套件有问题？用的是创新SB207声卡，矫正曲线很好。请高手帮忙解释一下。

蔓蔓刘 发表于 2012-3-3 11:40

这些话题不要随便讨论.........小声些;P

han_b2001 发表于 2012-3-6 18:48

这些话题不要随便讨论.........小声些
蔓蔓刘 发表于 2012-3-3 11:40 http://bbs.hifidiy.net/images/common/back.gif
为什么要小声点呢？测试问题大家更应该多多交流和切磋才是，说句题外话，就算是测试硬件有偏差，大家交流多了讨论多了，不是更能了解套件掌握好套件的性能，更能为大家服务好吗？世上没有完美的东西，正因如此我们才要更多的了解。套件我也在用，摸索了两个多月，实际模拟使用还是比较满意的，特别是在分频模拟设计方面提供了很大的帮助，有问题不回避，大家共同探讨才是。

为胆而欢 发表于 2012-3-6 19:10

再用串联电阻的方法自己检验一下真的FO是多少?楼主测的数误差较大,希望楼下最后讨论的结果不是喇叭有问题.

okra 发表于 2012-3-6 19:30

测量条件？

f0这个参数不大可能测错，与校正是否准确也没有任何关系。但它也没有唯一值，测量功率和测之前喇叭的老化状态都有非常大的关系。

okra 发表于 2012-3-6 19:30

这些话题不要随便讨论.........小声些
蔓蔓刘 发表于 2012-3-3 11:40 http://bbs.hifidiy.net/images/common/back.gif


为什么不要随便讨论？
这种话题太少了。

蔓蔓刘 发表于 2012-3-6 21:06

对不起......开玩笑的

Luxman 发表于 2012-3-6 21:09

测量条件？

f0这个参数不大可能测错，与校正是否准确也没有任何关系。但它也没有唯一值，测量功率和测之 ...
okra 发表于 2012-3-6 19:30 http://bbs.hifidiy.net/images/common/back.gif


    就是这样

han_b2001 发表于 2012-3-6 21:46

测量条件？

f0这个参数不大可能测错，与校正是否准确也没有任何关系。但它也没有唯一值，测量功率和测之 ...
okra 发表于 2012-3-6 19:30 http://bbs.hifidiy.net/images/common/back.gif

最近我测试的一个惠威新单元（橡皮边）,测试后出现和LZ一样的状况，FO偏高，随即把停用了一年多的SS10+拿出来证实测试的准确性，得出的结果和官方公布的FO值基本是没有什么偏差，说明单元在煲够时间后再行测量的结果更为准确，同样对分频等设计带来更真实可信的数据。希望LZ
不要着急，多用套件测试不同的单元并比对相关数据，同时摸索并总结经验，一定不会让你失望的。

Lafeite 发表于 2012-3-7 03:20

人为用手大幅度活动纸盆几下就会使Fs下降2-5Hz，当然过一段时间还会恢复，恢复到什么程度看之前施加给纸盆多大力量了，肯定不会恢复到原值的。
环境问题，空气湿度、温度对Fs影响非常大。

剧院之声 发表于 2012-3-7 03:32

回复 5# okra
正确的解释。
高级喇叭出厂前是做过老化的，普通喇叭需要自己做老化后再测，测试电压要一致。

dtk119 发表于 2012-3-8 19:53

喇叭需要做老化后再测   多测几次   看几次的平均值

可乐 发表于 2012-3-8 20:07

同样环境，同一喇叭，测量电流，测量电压，不一样，喇叭F0肯定不同，好像IMXP大侠对此有研究论文，可以去翻阅下

音乐贵族 发表于 2012-3-8 21:50

测量环境也有关系的

sunspk 发表于 2012-3-14 10:54


1. GB/T 9396-1996 扬声器主要性能测试方法
1小时的预负荷
2. 测参数 fo应是有电压条件, 一般为1.0v
3. 温度影响最大，因复合边使用橡胶/PU/刮胶布/泡棉等材料

电子虫子 发表于 2012-3-16 01:57

今天带了两个喇叭到朋友的工厂测试F0，用的是F0测试仪，一个3寸的是77HZ,1.5寸的是166HZ。而我用论坛的套件 ...
wangpingsc 发表于 2012-3-3 10:53 http://bbs.hifidiy.net/images/common/back.gif
想知到LZ 两次测量F0的时间跨度和是不是中间有老化过程

wangpingsc 发表于 2012-4-14 17:24

两次测试之间没有老化过，谢谢大家的指点，前段时间会家，没有回帖，对不起大家。

okk 发表于 2012-4-14 20:12

除了影响材料的因素，支撑状态也有影响的。
我相信LZ把电脑拿到工厂去同样条件PK一下，FS的结果应该是很接近的。:handshake

guobin 发表于 2012-4-15 20:05

久不用的单元，QTS老化前后测值可差一倍，模型都不正确，这样不熟悉单元的人肯定设计不出好的音箱，老化时间要保证，煲它一天两天又有何妨

dragon7314 发表于 2019-3-7 12:05

就是喇叭存放方式不对，磁钢朝下放置，导致音盆随弹波整体下凹，音圈偏离了磁场最强的中心位，F0和总Q值整体上升，你用手把音盆抬一抬，马上测，就会发现F0和总Q值降下来了。
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